Caractérisation microstructurale des matériaux, 2e édition David Brandon propose une introduction solide à la caractérisation microstructurale. Cet ouvrage d’étude aborde l’utilisation de différentes sondes pour analyser des matériaux soigneusement préparés. Cette 2e édition s’adresse aux étudiants et aux professionnels en science des matériaux et en ingénierie qui souhaitent approfondir les méthodes d’analyse expérimentale.
Table des matières
La caractérisation microstructurale est obtenue en appliquant une sonde qui interagit avec un échantillon. Les principales sondes sont la lumière visible, le rayonnement X, les particules à haute énergie et les balayages fins. Elles constituent la base de la microscopie optique, de la diffraction des rayons X, de la microscopie électronique et de la microscopie à sonde à balayage. L’édition approfondie traite de la structure cristalline, de la morphologie microstructurale et de la microanalyse. De nouveaux chapitres portent sur la microscopie de sonde de surface, le traitement numérique de l’image, la formation d’images d’orientation, les faisceaux d’ions focalisés, la sonde atomique et la reconstruction 3D.
Spécifications du produit
- Auteur : David Brandon (Technion - Israel Institute of Technology)
- Éditeur : John Wiley & Sons Inc
- Date de publication : 2008-03-14
- Nombre de pages : 560
- ISBN : 9780470027851
- Thème : Science des matériaux
- BISAC : TECHNOLOGY & ENGINEERING / Science des matériaux / Général
Auteur
David Brandon, affilié à l’Israel Institute of Technology à Haïfa, est spécialiste de la caractérisation microstructurale et auteur de cet ouvrage de référence, publié par Wiley.