Fundamentaux de l’analyse de films à l’échelle nanométrique van Terry L. Alford propose une étude approfondie des techniques permettant de quantifier la structure, la composition et la distribution en profondeur des matériaux à l’aide de particules énergétiques et de photons. Ce manuel s’adresse aux professionnels et aux étudiants en nanotechnologie et en sciences des matériaux.
Le livre décrit des techniques de caractérisation axées sur les structures à l’échelle nanométrique et sur les interactions entre les particules ou photons incidents et les matériaux. Ces interactions entraînent l’émission de particules et de photons dont l’énergie et l’intensité sont déterminantes pour l’analyse des matériaux.
Table des matières
En plus de la base théorique, l’ouvrage de référence aborde diverses techniques telles que les collisions atomiques, la rétrodiffusion de Rutherford, la canalisation ionique, la diffraction, l’absorption de photons et les réactions nucléaires. Les méthodes analytiques et la microscopie à sonde balayant sont également traitées de manière approfondie.
Spécifications du produit
- Auteur : Terry L. Alford
- Éditeur : Springer-Verlag New York Inc.
- Date de publication : 2007-02-16
- Nombre de pages : 336
- ISBN : 9780387292601
- Thème : Nanotechnologie
- BISAC : TECHNOLOGY & ENGINEERING / Nanotechnology & MEMS