Microstructural Characterization of Materials, 2nd Edition van David Brandon biedt een gedegen inleiding in microstructural characterization. Dit studieboek behandelt het gebruik van verschillende probes om zorgvuldig voorbereide materialen te onderzoeken. Deze 2e editie is bedoeld voor studenten en professionals in de materiaalkunde en engineering die willen verdiepen in experimentele analysemethoden.
Inhoud
Microstructural characterization wordt bereikt door het toepassen van een probe die interactie aangaat met een monster. De belangrijkste probes zijn zichtbaar licht, röntgenstraling, hoge-energiedeeltjes en fijne scans. Deze vormen de basis van optische microscopie, röntgendiffractie, elektronenmicroscopie en scanning probe microscopie. De uitgebreide editie behandelt kristalstructuur, microstructurele morfologie en microanalyse. Nieuwe hoofdstukken gaan in op oppervlakte-probemicroscopie, digitale beeldverwerking, oriëntatiebeeldvorming, gefocusseerde ionenbundels, atoomprobe en 3D-reconstructie.
Productspecificaties
- Auteur: David Brandon (Technion - Israel Institute of Technology)
- Uitgever: John Wiley & Sons Inc
- Verschijningsdatum: 2008-03-14
- Aantal pagina's: 560
- ISBN: 9780470027851
- Thema: Materials science
- BISAC: TECHNOLOGY & ENGINEERING / Materials Science / General
Auteur
David Brandon, verbonden aan het Israel Institute of Technology in Haifa, is specialist op het gebied van microstructural characterization en auteur van dit standaardwerk, gepubliceerd door Wiley.