Fundamentals of Nanoscale Film Analysis van Terry L. Alford biedt een diepgaande studie van technieken om de structuur, samenstelling en dieptedistributie van materialen te kwantificeren met behulp van energetische deeltjes en fotonen. Dit studieboek is bedoeld voor professionals en studenten in de nanotechnologie en materialenwetenschappen.
Het boek beschrijft karakteriseringstechnieken die gericht zijn op nanoschaalstructuren en de interacties tussen binnenkomende deeltjes of fotonen en materialen. Deze interacties resulteren in de emissie van deeltjes en fotonen waarvan energie en intensiteit bepalend zijn voor de materiaalanalyse.
Inhoud
Naast de theoretische basis behandelt het naslagwerk diverse technieken zoals atomaire botsingen, Rutherford backscattering, ionkanalisatie, diffractie, fotonabsorptie, en nucleaire reacties. Uitgebreid komen ook analytische methoden en scanning probe microscopy aan bod.
Productspecificaties
- Auteur: Terry L. Alford
- Uitgever: Springer-Verlag New York Inc.
- Verschijningsdatum: 2007-02-16
- Aantal pagina's: 336
- ISBN: 9780387292601
- Thema: Nanotechnology
- BISAC: TECHNOLOGY & ENGINEERING / Nanotechnology & MEMS