Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits van M. Bushnell en Vishwani Agrawal is een Engelstalig studieboek gericht op elektronische testing in digitale, geheugen- en mixed-signal VLSI-systemen. Dit boek biedt een grondige basis voor een course on electronic testing en is geschikt voor studenten en professionals in technische opleidingen.
Dit studieboek behandelt de fundamentele concepten en methoden voor testing voor digital circuits en VLSI-toepassingen. Het behandelt zowel theorie als praktische aspecten en is daarmee een waardevol naslagwerk voor cursussen waarin elektronische testing centraal staat. Door de omvangrijke inhoud kan een docent gericht thema’s selecteren die aansluiten bij specifieke leerdoelen en expertise.
De inhoud sluit nauw aan bij vakgebieden als elektronische materialen, devices, informatica en technische wetenschap. Het boek is onderdeel van de serie Frontiers in Electronic Testing en biedt de eerste volledige dekking van elektronische testing voor digitale, geheugen- en mixed-signal subsystemen.