Dit studieboek, geschreven door Adam J. Schwartz en uitgegeven door Springer-Verlag New York Inc., behandelt electron backscatter diffraction als essentiële techniek binnen materials science. Het biedt een grondige analyse van de huidige hardware, software en praktische toepassingen voor diverse materialen.
Omschrijving
Electron backscatter diffraction is een geavanceerde methode voor materiaalanalyse die inzicht verschaft in kristallografische textuur, korrelgrenskarakteristieken, lattice strain, fase-identificatie en meer. Dit boek behandelt de fundamentele principes, recente ontwikkelingen in apparatuur en software, en diverse toepassingen in metalen, legeringen, keramiek en supergeleiders.
De herziene editie breidt de inhoud uit met uitgebreidere basistheorieën en actuele voorbeelden uit materials science en gecondenseerde materiefysica. Het is gericht op onderzoekers en professionals die electron backscatter-technieken willen inzetten voor het oplossen van complexe vraagstukken.
Productspecificaties
- Auteur: Adam J. Schwartz
- Uitgever: Springer-Verlag New York Inc.
- Verschijningsdatum: 2009-08-12
- Aantal pagina's: 403
- ISBN: 9780387881355
- Thema: Testing of materials
- BISAC: TECHNOLOGY & ENGINEERING / Materials Science / General
Over de auteur
Adam J. Schwartz is Deputy Division Leader voor Condensed Matter and High Pressure Physics bij de Physics and Advanced Technologies Directorate. Hij combineert jarenlange ervaring in electron backscatter diffraction met expertise in materiaalkarakterisering, met meer dan 50 publicaties en een patent in dit vakgebied.