Digitaal-, muisti- ja sekasignaali-VLSI-piirien elektronisen testauksen perusteet van M. Bushnell ja Vishwani Agrawal ovat kirjoittaneet englanninkielisen oppikirjan, joka on suunnattu elektroniseen testaukseen digitaalisissa, muisti- ja sekasignaali-VLSI-järjestelmissä. Tämä kirja tarjoaa perusteellisen pohjan electronic testing -kurssille, ja se sopii sekä teknisten alojen opiskelijoille että ammattilaisille.
Tämä oppikirja käsittelee digitaalisten piirien ja VLSI-sovellusten testauksen keskeisiä käsitteitä ja menetelmiä. Se käsittelee sekä teoriaa että käytännön näkökulmia, joten se on arvokas lähdeteos kursseille, joissa elektroninen testaus on keskiössä. Laajan sisällön ansiosta opettaja voi valita tavoitteisiin ja osaamiseen sopivia teemoja.
Sisältö liittyy tiiviisti aloihin, kuten elektroniset materiaalit, laitteet, tietojenkäsittely ja tekninen tiede. Kirja kuuluu Frontiers in Electronic Testing -sarjaan ja tarjoaa ensimmäisen kattavan kuvauksen elektronisesta testauksesta digitaalisille, muisti- ja sekasignaalisten alijärjestelmien tasolla.