Caracterización microestructural de materiales, 2.ª edición David Brandon ofrece una introducción sólida a la caracterización microestructural. Este libro de estudio trata el uso de diferentes sondas para investigar materiales cuidadosamente preparados. Esta 2.ª edición está dirigida a estudiantes y profesionales en ciencia de los materiales e ingeniería que desean profundizar en métodos de análisis experimentales.
Contenido
La caracterización microestructural se logra aplicando una sonda que interactúa con una muestra. Las principales sondas son la luz visible, la radiación de rayos X, partículas de alta energía y barridos finos. Estas constituyen la base de la microscopía óptica, la difracción de rayos X, la microscopía electrónica y la microscopía de sonda de barrido. La edición ampliada trata la estructura cristalina, la morfología microestructural y el microanálisis. Los capítulos nuevos abordan la microscopía de sonda de superficie, el procesamiento digital de imágenes, la formación de imágenes por orientación, los haces de iones enfocados, la sonda atómica y la reconstrucción 3D.
Especificaciones del producto
- Autor: David Brandon (Technion - Israel Institute of Technology)
- Editor: John Wiley & Sons Inc
- Fecha de publicación: 2008-03-14
- Número de páginas: 560
- ISBN: 9780470027851
- Tema: Ciencia de los materiales
- BISAC: TECNOLOGÍA & INGENIERÍA / Ciencia de los materiales / General
Autor
David Brandon, vinculado al Israel Institute of Technology en Haifa, es especialista en caracterización microestructural y autor de esta obra de referencia, publicada por Wiley.