Mikrostrukturelle Charakterisierung von Werkstoffen, 2. Auflage David Brandon bietet eine fundierte Einführung in die mikrostrukturelle Charakterisierung. Dieses Lehrbuch behandelt den Einsatz verschiedener Sonden, um sorgfältig vorbereitete Werkstoffe zu untersuchen. Diese 2. Auflage ist für Studierende und Fachleute in den Werkstoffwissenschaften und im Engineering gedacht, die experimentelle Analysemethoden vertiefen möchten.
Inhalt
Die mikrostrukturelle Charakterisierung wird erreicht, indem eine Sonde eingesetzt wird, die mit einer Probe wechselwirkt. Die wichtigsten Sonden sind sichtbares Licht, Röntgenstrahlung, Teilchen mit hoher Energie und feine Scans. Diese bilden die Grundlage der optischen Mikroskopie, der Röntgendiffraktion, der Elektronenmikroskopie und der Rastersondenmikroskopie. Die erweiterte Ausgabe behandelt die Kristallstruktur, die mikrostrukturelle Morphologie und die Mikroanalyse. Neue Kapitel befassen sich mit der Oberflächen-Sondenmikroskopie, der digitalen Bildverarbeitung, der Orientierungsbildgebung, fokussierten Ionenbündeln, der Atomsonde und der 3D-Rekonstruktion.
Produktspezifikationen
- Autor: David Brandon (Technion - Israel Institute of Technology)
- Herausgeber: John Wiley & Sons Inc
- Erscheinungsdatum: 2008-03-14
- Anzahl Seiten: 560
- ISBN: 9780470027851
- Thema: Werkstoffwissenschaft
- BISAC: TECHNOLOGY & ENGINEERING / Materials Science / General
Autor
David Brandon, verbunden mit dem Israel Institute of Technology in Haifa, ist Spezialist auf dem Gebiet der mikrostrukturellen Charakterisierung und Autor dieses Standardwerks, das von Wiley veröffentlicht wurde.