Grundlagen der Analyse von Dünnfilmen im Nanobereich Terry L. Alford bietet eine eingehende Studie der Techniken zur Quantifizierung von Struktur, Zusammensetzung und Tiefenverteilung von Materialien mithilfe energetischer Teilchen und Photonen. Dieses Lehr- und Fachbuch ist für Fachleute und Studierende in der Nanotechnologie und den Materialwissenschaften gedacht.
Das Buch beschreibt Charakterisierungstechniken, die auf nanoskalige Strukturen und die Wechselwirkungen zwischen eintreffenden Teilchen oder Photonen und Materialien ausgerichtet sind. Diese Wechselwirkungen führen zur Emission von Teilchen und Photonen, deren Energie und Intensität für die Materialanalyse entscheidend sind.
Inhalt
Neben der theoretischen Grundlage behandelt das Nachschlagewerk verschiedene Techniken wie atomare Stöße, Rutherford-Backscattering, Ionenkanalisierung, Beugung, Photonenabsorption und nukleare Reaktionen. Ausführlich werden außerdem analytische Methoden und Rastersondenmikroskopie behandelt.
Produktspezifikationen
- Autor: Terry L. Alford
- Verlag: Springer-Verlag New York Inc.
- Erscheinungsdatum: 2007-02-16
- Seitenzahl: 336
- ISBN: 9780387292601
- Thema: Nanotechnologie
- BISAC: TECHNOLOGY & ENGINEERING / Nanotechnology & MEMS